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OPTEK X-RAY层偏量测机目前已搭配世界******的X射线和测量系统，它可以量测及检视内层特性的位置，例如：多层印刷电路闆的内层基准点，在层压过程中之涨缩偏移性，以及层压的质量特性等。

藉由内视影像及量测，可显示出偏移、倾斜、延长、收缩及歪曲之位置及数据，可提供组装制程序如：层压、制模、鑽孔及尺寸设定之控制与改善。

1. 量测范围 --  X 轴 － 28" (700 mm), Y 轴 － 24" (600 mm), Z 轴 － 8" (200 mm).

2. 平台材质 --  花岗岩平台及花岗岩龙门.

3. X/Y轴驱动方式 --  线性马达 (Linear Motors) + 柱形轴承 + 气浮轴承 (Air Bearings).

4. X/Y轴移动方式 --  游戏杆 (Joystick) + 微调滑球 (Trackball).

5. X/Y 轴移动速度 --  30" (760 mm)/sec. Max.

6. 光学尺分辨率 --  0.0001 mm (X/Y/Z). 

7. 量测功能 --  点、线 (线宽,线距)、圆 (圆心坐标、半径、直径)、圆弧、距离、开口槽宽、角度、槽形、不规则形等等之几何量测.   量测步骤均可Repeat.

8. 程序可编辑、修改、插入、删除.

9. 可设定量测公差值，做 Pass 或 Fail 判定.

10. 全台面 (量测范围) NLEC 非线性误差补偿